產(chǎn)品中心
PRODUCTS CENTER
當前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心PID產(chǎn)品臺式雙面電池PID測試儀PIDcon bifacial臺式雙面電池PID測試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)品分類(lèi)
相關(guān)文章
雙面電池問(wèn)題：
將電池的后側改為光蓋，被發(fā)現使雙面PERC電池和模塊對后側的新型PID敏感，即去極化型PID(PID-p)和腐蝕型PID機制(PID-c)。
解決方案：
為了測試電池的這些類(lèi)型的PID，我們開(kāi)發(fā)了PIDcon雙面體。它是用溫度、照明和高電壓對完整的電池進(jìn)行壓力測試，它可以在兩個(gè)方向上進(jìn)行極化。通過(guò)測量照明下的IV曲線(xiàn)，可以確定PID的靈敏度。
臺式雙面電池PID測試儀應用：
太陽(yáng)能電池片PID檢測
HIT、Topcon 、PERC、AL-BSF、PERC+、雙面PERC、PERT、PERL和IBC太陽(yáng)能電池的研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制。
欲了解更多信息，請訪(fǎng)問(wèn) www.pidcon。。ｃｏｍ 
臺式雙面電池PID測試儀PIDcon bifacial的特點(diǎn)：
● 符合IEC62804-TS標準
● 易于使用的臺式設備
● 能夠測量c-Si太陽(yáng)能電池和微型模塊
● 無(wú)需氣候室
● 無(wú)需層壓電池
● 測量速度:小時(shí)至數天
● 可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、漏電流、濕度、溫度
● 太陽(yáng)能電池可以在以后通過(guò)EL等進(jìn)行研究
● 基于IP的系統允許遠程操作和技術(shù)支持從世界任何地方
標準試驗條件:
● 電壓:upto1.5kV
● 溫度:85°C
● 測試時(shí)間:4hours(typical)
● 干燥條件下，不需要水
類(lèi)型 受壓 恢復
PID-s正面 85°C，+1.5 kV 85°C，-1.5 kV
PID-p背面 85°C，+1.5 kV，無(wú)照明 85°C， 暗儲存或光照
PID-c背面 85°C，+1.5 kV， 照明 不可恢復
層壓 150°C，20min
樣品尺寸 210×210mm
適用于 A PERC,AL-BSF,IBC,PERC+,雙面PERC,p型和n型電池 功率要求 110/230 V AC, 50/60 Hz
資質(zhì)認證 根據ISO9001準則制造，符合CE標準
參考文獻： cells (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163
(2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tr?ndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic
modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).
(3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).
(4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells
as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.
(5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Gro?er, S. Richter, A. H?hnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.
(6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. P?blau, S. Gro?er, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.
(7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.
掃一掃，關(guān)注公眾號
服務(wù)電話(huà)：
021-34685181
上海市松江區千帆路288弄G60科創(chuàng )云廊3號樓602室
wei.zhu@shuyunsh.com
服務(wù)熱線(xiàn)：
021-34685181
17621138977
上一個(gè)：
返回列表