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B（硼）和P（磷）的摻雜被用于微電子工業(yè)的許多應用，但是到目前為止，還沒(méi)有一種方法可以在不接觸樣品并由于必要的退火步驟而改變其特性的情況下檢查這些摻雜的均勻性。到目前為止的困難是，摻雜區域通常只有幾微米的深度，而且摻雜的劑量非常低。MDP能夠以高的分辨率來(lái)描述這些摻雜的樣品，并能很好地區分不同的摻雜劑量。在這種情況下，光導率或信號高度是檢測摻雜物中不均勻性的敏感的參數。它在很大程度上取決于電阻率和少數載流子壽命本身。在MDPmap和MDPingot設備中，可以集成4個(gè)不同波長(cháng)...

固體推進(jìn)劑是一種具有特定性能的含能復合材料，該材料是航天、空間飛信器等各種固體發(fā)動(dòng)機的動(dòng)力源，在**和航天技術(shù)發(fā)展中扮演著(zhù)重要角色。其中復合固體推進(jìn)劑是以高聚物為基體?；煊脱趸瘎┖徒饘偃剂系冉M分的多相混合物。作為一種高顆粒填充比的含能材料，其宏觀(guān)性能與微觀(guān)結構緊密相關(guān)。近些年隨著(zhù)對復合固體推進(jìn)劑研究的不斷深入，原有的微觀(guān)結構表征方法或由于只能表征二維表面信息，或由于分辨率精度的限制，已不能適應該領(lǐng)域研究的更高要求，在這種背景下，三維X射線(xiàn)顯微鏡（3DXRM）憑借能夠在無(wú)損研究...

臺式系統PIDcon可以對微組模塊進(jìn)行常規質(zhì)量控制，作為一種快速和低成本的PID敏感性測試，不需要氣候室或其他擴張性工具。小型模組分類(lèi)電位誘導衰減（PID）是光伏電站的一個(gè)嚴重的可靠性問(wèn)題。因此，調查其產(chǎn)品對PID的敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在生產(chǎn)鏈的早期測試他們的產(chǎn)品，例如在微型模塊上。請注意，這里考慮的PID是由于高電壓應力引起的漏電電流（PID-s）導致的太陽(yáng)能電池的分流。迷你模塊通過(guò)2個(gè)接觸點(diǎn)進(jìn)行接觸，并通過(guò)接觸檢查確保良好的接觸。PIDStu...

有了MDPingot和MDPmap系列，就可以全自動(dòng)地測量磚塊和硅片中的鐵濃度，而且分辨率非常高。鐵硼對解離前后的壽命測量是一種**使用的測定硅片中鐵的方法。在高摻雜濃度的摻硼硅中，因為它被用于光伏應用，幾乎100%的電活性鐵以FeB對的形式存在。在有足夠能量的光照下，這些鐵對可以在Fe和B中解離。這個(gè)過(guò)程是可逆的，在一段時(shí)間后，所有的FeB對都會(huì )再次結合。FeB和Fei有不同的重組特性，因此解離對測量的壽命有影響。在這種影響下，鐵的濃度可以通過(guò)以下方式確定：對于鐵的測定，使...

太陽(yáng)能電池分類(lèi)：圖一：帶EVA箔和玻璃的太陽(yáng)能電池放置在PIDcon中電位誘導衰減（PID）是光伏電站的一個(gè)嚴重的可靠性問(wèn)題。因此，調查其產(chǎn)品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在太陽(yáng)能電池的生產(chǎn)鏈中盡可能快地測試他們的產(chǎn)品，并調查封裝材料。因此，太陽(yáng)能電池及其SiNx層的影響可以立于EVA和玻璃的影響進(jìn)行研究。請注意，這里考慮的PID是太陽(yáng)能電池由于高電壓應力引起的漏電電流（PID-s）而產(chǎn)生的分流。為了對太陽(yáng)能電池進(jìn)行分類(lèi)，使用敏感的EVA和玻璃是很...

EVA評估不同的EVA薄膜與來(lái)自同一批次和同一玻璃的太陽(yáng)能電池的比較PIDcon的測量設置PIDcon可以通過(guò)使用一個(gè)模擬模塊的樣品堆來(lái)調查EVA箔對PID敏感性的影響。用戶(hù)只需將太陽(yáng)能電池、需要調查的EVA箔和玻璃放在上面。當然，必須使用同一批次的太陽(yáng)能電池和同一玻璃進(jìn)行比較。在圖1所示的例子中，兩種EVA薄膜的PID敏感度有明顯的差異。EVA1比EVA2更適合用于模塊。

根據IEC62804標準PIDcon的測量設置PIDcon測量的典型結果電勢誘導退化（PID）是光伏電站的一個(gè)嚴重的可靠性問(wèn)題。因此，調查其產(chǎn)品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在生產(chǎn)鏈中盡早地測試他們的產(chǎn)品，并調查封裝材料。PIDcon允許對標準生產(chǎn)單元進(jìn)行常規質(zhì)量控制，測試新工藝、材料或層的變化，并對各種模塊步驟進(jìn)行鑒定。請注意，這里考慮的PID是由于高電壓應力引起的漏電電流（PID-s）導致的太陽(yáng)能電池的分流。PIDcon的結構實(shí)際上與IEC標準...

論文來(lái)源：K.Sporlederetal.,QuicktestforreversibleａndirreversiblePIDofbifacialPERCsolarcells部分摘要：雙面PERC電池背面PID會(huì )導致嚴重的功率損失。與單面PERC太陽(yáng)能電池相比，可以發(fā)生可逆的去極化相關(guān)電位誘導衰退（PID-p）和不可逆的腐蝕電位誘導衰退（PID-c）。研究表明，一個(gè)可靠的評估太陽(yáng)能電池功率損失的方法需要一種改進(jìn)的PID測試方法，需要在高壓測試上附加光照。此外，還需要在測試方案中...